L'ITk Master Thesis Award 2022 consegnato al Dott. Simone Ravera

Congratulazioni al Dott. Simone Ravera (Unige) per essersi aggiudicato l'ITk Master Thesis Award  2022 che premia la migliore tesi di laurea con argomento ITk, il nuovo tracciatore dell' esperimento ATLAS  at CERN  che entrerà in funzione nel 2029 per il programma di alta luminosità del Large Hadron Collider (HL-LHC). 

Il Dott. Simone Ravera durante la presentazione della sua  tesi alla cerimonia di premiazione durante l'ITk week, svoltasi al CERN la settimana del 6 Marzo 2023.
Il Dott. Simone Ravera durante la presentazione della sua tesi alla cerimonia di premiazione durante l'ITk week, svoltasi al CERN la settimana del 6 Marzo 2023.
Il Dott. Simone Ravera riceve un modello in scala del futuro rivelatore.
Il Dott. Simone Ravera riceve un modello in scala del futuro rivelatore, in realtà circa lungo 7 m e di 2m di diametro.

Simone si è laureato presso l'università di  Genova a Settembre 2022 svolgendo la  sua tesi nel gruppo ATLAS INFN, con relatori la Dott.ssa Claudia Gemme (INFN Genova) e il Dott. Alessandro Lapertosa (Unige ed INFN Genova).

Nella sua tesi Simone ha misurato la resistenza alle radiazione dei sensori a pixel di silicio costruiti con la tecnologia 3D che saranno posti a pochi cm dalle collisioni di HL-LHC. La caraterizzazione di questi sensori è stata fatta in parte nei laboratori INFN al Dipartimento di Fisica ed in parte al CERN usando fasci di particelle. In particolare, Simone ha misurato l'efficienza di rivelazione di questi sensori prima e dopo averli irraggiati con una dose pari a 10^16 neutroni/equivalenti per cm quadrato dimostrando la loro idoneità a funzionare nelle condizioni richieste a HL-LHC. Per maggiori dettagli consultare la tesi: https://cds.cern.ch/record/2839339?ln=it

Efficienza dei sensori 3D irraggiati in funzione del voltaggio applicato, per particelle incidenti a differenti angoli di incidenza.
Efficienza dei sensori 3D irraggiati in funzione del voltaggio applicato, per particelle incidenti a differenti angoli di incidenza.