L’AFM NanoWizard IV (NW IV) della Bruker è stato acquisito ed è attualmente in funzione presso il DIFILab. La macchina permette l’acquisizione della morfologia di superficie su un are massima di 100 µm x 100 µm, con un’escursione z di 15 µm, ed è stata scelta per le sue alte prestazioni in termine di risoluzione e per la sua estrema flessibilità che consente un ottimale accoppiamento con tecniche ottiche e spettroscopiche.
Lo strumento è installato su di un microscopio invertito, offrendo una configurazione ideale per lo studio di campioni biologici, tipicamente cresciuti su substrati trasparenti, così come di nanostrutture, mono-strati auto-organizzati, film sottili, materiale porosi, materiali 2D, etc.
Il modulo BioMat consente invece di correlare le misure AFM con misure ottiche/spettroscopiche acquisite da un microscopio diritto, accrescendo significativamente la capacità di analisi di campioni non trasparenti (es. silicio nanostrutturato, etc.).
Il NW IV è lo strumento ideale per l’accoppiamento con tecniche di super-risoluzione ottica. L’accoppiamento tra il NW IV e il microscopio Stellaris 8 (Leica), anch’esso installato presso il DIFILAB, offre un sistema per la microscopia correlativa unico per prestazioni sul panorama europeo. Il sistema integrato NW IV-Stellaris 8 è accessibile ai ricercatori esterni all’Università di Genova nell’ambito del progetto europeo MOSBRI (MOlecular-Scale Biophysics Research Infrastructure, www.mosbri.eu).
Per controllare le condizioni ambientali, un AFM PARK NX10 (campo di scansione 50 µm x 50 µm, escursione verticale 10 µm) è stato installato in una glove-box, all’interno della quale l’acquisizione di immagini può essere eseguita in un’atmosfera controllata, ad esempio, in azoto secco per ridurre l’umidità. Questo AFM può anche funzionare in modalità non a contatto con una leva conduttiva, oscillante alla sua frequenza di risonanza. Applicando un potenziale di tensione, il segnale elettrostatico risultante fornisce informazioni sulla conducibilità superficiale, il gradiente di reattanza capacitiva e la funzione di lavoro locale del materiale (Kelvin probe force microscopy - KPFM).
