L'ellissometro Accurion nanofilm_ep4 è uno strumento dedicato alla misura delle proprietà ottiche dei materiali con una risoluzione laterale del micrometro. Il suo principio di funzionamento è basato sulla applicazione di ellissometria multi-lunghezza d'onda, permettendo di ottenere informazioni quantitative e ad altissima sensibilità sulla risposta ottica dei materiali, particolarmente film sottili ed ultrasottili, e materiali a ridotta dimensionalità, anche nanostrutturati. La tipologia di misure effettuabili consente, attraverso lo sviluppo di appositi modelli matematici, di estrarre le costanti dielettriche dei materiali in esame. Trova naturale applicazione in quei campi della fisica in cui la dimensione caratteristica dei campioni è spazialmente limitata a pochi micrometri.
Le sorgenti di radiazione impiegate sono regolarmente spaziate dal vicino UV al vicino IR, per coprire diversi regimi di risposta ottica dei solidi.